Fourniture, livraison, installation, mise en service, formation et garantie d'une STATION DE MESURES SOUS POINTES MANUELLES DC & RF - WAFERS < = 150 mm

1. Objectif : Le présent appel d’offre a pour objectif l’acquisition d’un équipement technique de type station ou testeuse sous pointes manuelles. Ce cahier des charges définit les spécificités techniques pour la fourniture et l'installation de l’équipement destiné à la caractérisation électrique continue (DC) et radiofréquence (RF) d’échantillons de diverses dimensions, de quelques microns à 150 mm de diamètre avec une fiabilité optimale. 2. Contexte : Le Centre d’Elaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (CEMES), laboratoire du CNRS (UPR8011) situé à Toulouse, est un laboratoire de recherche fondamentale en physique du solide, nanosciences, chimie moléculaire et science des matériaux. Ses activités couvrent un large spectre allant de la synthèse de (nano)matériaux et de systèmes moléculaires jusqu’à l’étude et la modélisation de leurs structures et de leurs propriétés physiques (optique, mécanique, électronique et magnétique) et leur intégration dans des dispositifs. Une part importante de l’activité expérimentale du laboratoire est dédiée à l’étude et la manipulation d’objets individuels dont les tailles caractéristiques sont aux échelles nanométriques. En particulier, plusieurs de ces travaux requièrent des mesures de type électriques (résistives, capacitives, fréquentielles) appliquées à des échantillons ou composants micro- ou nano-métriques élaborés en salle blanche ou par des techniques FIB (Focused Ion Beam) avancées. C’est dans ce cadre que le CEMES souhaite s’équiper d’une station de mesure électrique sous pointes à déplacement micrométrique. Cette station, équipée de source-mètres adaptés, sera placée au plus près des équipements instrumentaux de pointe du CEMES. Ce projet vise ainsi à acquérir un dispositif de mesure électrique équipé de pointes à déplacement micrométrique manuel permettant des prises de contact locales de haute précision et la connexion de source-mètres adaptés aux mesures devant être réalisées. La station de test sous pointes permettra la mise en œuvre de mesures résistives (courant-tension, I-V) et capacitives (C-V) sur une large gamme de fréquences ( >= 25 GHz) et à faible bruit. Cette station sera utilisée pour tester et/ou étudier électriquement les systèmes élaborés par nanofabrication en salle blanche, issus des bâtis de croissance ou préparés et contactés par FIB pour des expériences in situ/operando en MET (microscopie électronique en transmission). Cet équipement constituera ainsi une brique essentielle pour relier les propriétés mesurées macroscopiquement dans des conditions expérimentales contrôlées avec leurs propriétés locales obtenues par imagerie ou spectroscopie électronique.