Spectromètre à fluorescence X (MicroXRF)

La caractérisation chimique des matériaux inorganiques et organiques est une approche fondamentale et essentielle à l’ensemble des disciplines scientifiques couvertes par la Laboratoire de Géologie de Lyon (LGLTPE, UMR 5276) avec de nombreuses applications dans les domaines des géosciences, de la minéralogie, de la paléontologie, de la planétologie et de l’étude des paléoenvironnements. Le LGL-TPE souhaite s’équiper d’un outil d’analyse permettant de cartographier rapidement la distribution d’éléments chimiques dans des matériaux inorganiques et organiques, sur des échelles macroscopiques ( >cm voir >dm) et à des résolutions spatiales larges, différentes des techniques purement microscopiques (ex : MEB-EDS). Cet outil sera également utilisé pour quantifier la composition des matériaux terrestres et extra-terrestres et la variabilité intrinsèque de leur chimie et minéralogie. Cet outil est un spectromètre d’analyse géochimique à fluorescence X, de type Micro-XRF. Cet outil permet l’analyse géochimique multi-élémentaires en laboratoire sur une zone ponctuelle, selon un tracé prédéfini ou sous forme de cartographie chimique, des éléments allant du C, F, pour les plus légers aux éléments les plus lourds du tableau périodique, dont le Ba. Les applications les plus fréquentes concerneront la caractérisation de géomatériaux solides (roches, carottes roches, matériaux de construction, minéraux, fossiles, minerais) constitutifs des enveloppes externes accessibles de la Terre mais également de matériaux extraterrestres tels que les météorites. Les besoins et les spécifications techniques détaillés sont décrits dans les sections suivantes.